International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics (6 : 2007 : Gaithersburg, Md.) Bezüge im Wissensnetz Als Nachfolgende Konferenz oder Veranstaltung beteiligt (1) GND 6049500-5 Vorherige Konferenz oder Veranstaltung (1) GND 6049500-5 Veranstaltungsort (1) GND Gaithersburg, Md.